Исследовательская группа из США и Южной Кореи, под общим руководством Университета штата Пенсильвания (PSU), разработала многослойную архитектуру, которая улучшает механическую растяжимость и подавляет образование и распространение микротрещин в изначально хрупком полупроводнике n-типа. Об этом сообщает официальный сайт PSU.
Перевод основных положений публикации представлен изданием discover24.ru.По словам главного исследователя Цуньцзяна Ю, специалиста Центра биомедицинской инженерии Университета штата Пенсильвания, полностью эластичные электронные системы требуют гибкости и растяжимости в каждом компоненте. Ранее исследователи добились этой характеристики в большинстве компонентов, за исключением одного типа полупроводника (так называемого n-типа), который известен своей хрупкостью.
Теперь ученые из PSU, совместно с коллегами из Хьюстонского университета в США, Университета Пусана и Ульсанского национального института науки и технологий (UNIST) в Республике Корея, разработали новый подход к компенсации хрупкого полупроводника, чтобы приблизить отрасль электроники к полностью гибким системам.
«Для такой технологии требуются гибкие эластичные полупроводники – ключевые элементы, необходимые для создания интегральных схем, но эти полупроводники в основном относятся к p-типу», – пояснил Ю, имея в виду полупроводниковый материал, который проводит электричество в основном через положительно заряженные подвижные каналы.
Однако дополнительная интегрированная электроника, оптоэлектроника, устройства с p-n переходом и многие другие компоненты требуют применения полупроводников именно n-типа – которые проводят электричество в основном за счет отрицательно заряженных электронов, а в сочетании с полупроводниками p-типа – способны действовать как переключатель, при котором ток течет в одном направлении. Но полупроводники n-типа, как правило, бывают лишь жесткими, и это ограничивает их использование для создания эластичных транзисторов и интегральных схем.
Чтобы решить эту проблему, исследователи поместили полупроводник n-типа между двумя эластичными материалами, известными как эластомеры (полимеры, способные растягиваться и возвращаться к своей первоначальной форме). «Мы обнаружили, что многослойная архитектура улучшает механическую растяжимость и подавляет образование и распространение микротрещин в изначально хрупком полупроводнике n-типа», – отметил Ю.
Исследовательская группа провела полученный стек через ряд стресс-тестов, и новый материал успешно подтвердил свою стабильность в работе. Кроме того, ученые также применили стек для изготовления эластичных транзисторов и интегрированных электронных систем.
«Эластичные транзисторы сохранили высокую производительность устройства даже при растяжении на 50% в любом направлении. Устройства также продемонстрировали долгосрочную стабильную работу в течение более 100 дней в естественной окружающей среде», – отметил Ю.
Последний фактор весьма важен, потому что многие полупроводники n-типа имеют свойство терять эффективность под воздействием кислорода и влаги. Как выявили исследователи, зажатый между эластомерами полупроводник эффективно изолирован от потенциально разрушительного воздействия внешней среды.
В дальнейшем, по словам Ю, исследовательская группа намерена продолжить работу над улучшением характеристик многослойных полупроводниковых материалов и оптимизацией конфигурации слоев для повышения их стабильности. «Теперь, когда у нас есть эластичный полупроводник n-типа, скоро следует ожидать создания на его основе полностью эластичных интегральных схем», – подчеркнул Цуньцзян Ю.
Свежие комментарии